[发明专利]谷粒品级判别装置有效
申请号: | 201580068276.6 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN107250774B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 石突裕树;江藤聪;土井贵广;竹内宏明 | 申请(专利权)人: | 株式会社佐竹 |
主分类号: | G01N21/85 | 分类号: | G01N21/85 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 谷粒 品级 判别 装置 | ||
本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备:光学部(3),向谷粒(G)照射光,由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光,从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息;以及品级判别部(7),基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息,从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差,将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损,从而防止上述信息的紊乱,而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用,来提高侧面信息的精度等,从而提高谷粒(G)的品级判别精度。
技术领域
本发明涉及判别谷粒的品级的谷粒品级判别装置。
背景技术
目前,公知有谷粒品级判别装置,其将光照射至谷粒,接受来自该谷粒的反射光和/或透过光,并根据该接受到信号判别上述谷粒的品级(例如,参照专利文献1。)。
记载于专利文献1的谷粒品级判别装置包含:输送部,输送谷粒;两个光学检测部,配设于该输送部的输送方向;以及品级判别部。
在上述谷粒品级判别装置中的第一光学检测部配设有:从斜上方对谷粒照射红色光的红色发光二极管灯及照射绿色光的绿色发光二极管灯;以及从下方对上述谷粒照射蓝色光的蓝色发光二极管灯。另外,在上述第一光学检测部配设有RGB图像传感器,接受从各上述灯具照射出的光的来自上述谷粒表面及侧面的反射光或透过光。
在上述谷粒品级判别装置中的第二光学检测部配设有:从斜上方对谷粒照射绿色光的绿色发光二极管灯;从上方对上述谷粒照射蓝色光的蓝色发光二极管灯;以及从斜下方对上述谷粒照射红色光的红色发光二极管灯。另外,在上述第二光学检测部配设有RGB图像传感器,接受从各上述灯具照射出的光的来自上述谷粒背面的反射光或透过光。
就上述谷粒品级判别装置而言,在上述品级判别机构中,基于上述第一光学检测部的上述RGB图像传感器接受的来自上述谷粒表面的蓝色透过光而指定该谷粒的表面(平面)形状,基于上述RGB图像传感器接受的来自上述谷粒表面的红色光、绿色光以及蓝色光而取得颜色信息、着色信息、透过度信息等上述谷粒的“表侧信息”。
另外,在上述品级判别机构中,基于上述第一光学检测部的上述RGB图像传感器接受的来自上述谷粒侧面的任一颜色的透过光而指定该谷粒的侧面形状,基于上述谷粒的侧面形状而取得上述谷粒的“粒厚信息”。
而且,在上述品级判别机构中,基于上述第二光学检测部的上述RGB图像传感器接受的来自上述谷粒背面的蓝色透过光而指定该谷粒的背面(平面)形状,基于上述RGB图像传感器接受的来自上述谷粒背面的红色光、绿色光以及蓝色光而取得着色信息、裂痕信息等上述谷粒的“背侧信息”。
根据上述专利文献1所记载的谷粒品级判别装置,利用上述输送机构所输送的谷粒根据基于上述第一光学检测部的RGB图像传感器接受的来自上述谷粒表面及侧面的反射光和/或透过光而取得的该谷粒的“表面信息”及“粒厚信息”、基于上述第二光学检测部的RGB图像传感器接受的来自上述谷粒背面的反射光和/或透过光而取得的该谷粒的“背侧信息”,能够精度良好地判别上述谷粒的品级。
然而,上述谷粒品级判别装置具有以下问题:因为具备扫描速度相同的两个光学检测部,所以需要宽阔的配设空间,装置大型化,并且成本变高。
另外,上述谷粒品级判别装置在沿着谷粒的输送方向而分开的位置配设光学检测部,因此不能同时接受来自谷粒表面及侧面的反射光或透过光、和来自上述谷粒背面的反射光或透过光。因此具有以下问题:如果谷粒分别通过上述两个光学检测部时的输送速度稍有不同,则在一个谷粒的表面和背面,受光信号的数量(次数)会不同(移动速度的不稳定度)。另外,还具有以下问题:如果分别通过两个光学检测部时的谷粒的姿势不完全相同,则在一个谷粒的表面和背面,平面形状会不同(伴随输送的谷粒的姿势的变化)。如果考虑这些问题,则在提高谷粒的品级判别精度上仍有改善的余地。
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