[发明专利]单晶金刚石材料和包括所述金刚石材料的工具、辐射温度监测器和红外光学组件有效
| 申请号： | 201580059054.8 | 申请日： | 2015-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN107109690B | 公开（公告）日： | 2019-08-20 |
| 发明（设计）人： | 西林良树;植田晓彦;小林丰 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社;住友电工硬质合金株式会社 |
| 主分类号： | C30B29/04 | 分类号： | C30B29/04;C23C16/27 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李兰;孙志湧 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种单晶金刚石材料，具有对于波长大于或等于410nm且小于或等于750nm的任何波长的光的小于或等于15％的透过率，并且是根据光学评估的电绝缘体和根据电气评估的电绝缘体中的至少任何一个。光学评估的准则可以是波长为10.6μm光的透过率大于或等于1％的。电气评估的标准可以是平均电阻率大于或等于1×106Ωcm。因此，提供了在可见光区域的整个区域中具有低透过率且呈现黑色的单晶金刚石材料。 | ||
| 搜索关键词： | 单晶金刚石材料 透过率 波长 电绝缘体 光学评估 红外光学组件 金刚石材料 可见光区域 温度监测器 整个区域 电阻率 评估 辐射 | ||
【主权项】：
1.一种单晶金刚石材料，对于波长大于或等于410nm且小于或等于750nm的任何波长的光，所述单晶金刚石材料的透过率小于或等于15％，所述单晶金刚石材料是根据光学评估的电绝缘体和根据电气评估的电绝缘体中的至少任何一个，所述单晶金刚石材料的选自由镁、铝、硅、磷和硫组成的组中的至少一种杂质元素的总杂质元素浓度大于或等于至50ppb。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电气工业株式会社;住友电工硬质合金株式会社，未经住友电气工业株式会社;住友电工硬质合金株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580059054.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：钛基互化合金
- 下一篇：紧凑的侧式出入口排气后处理系统
