[发明专利]光耦合装置在审
申请号: | 201580033269.2 | 申请日: | 2015-07-03 |
公开(公告)号: | CN106471629A | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 新村雄一 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H01L31/12 | 分类号: | H01L31/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 光耦合装置具备1次导电板、发光部、2次导电板、受光部和第1导电部。发光部设置于1次导电板,将电信号变换为光,并发出该光。2次导电板与1次导电板空开间隔,设置于与发光部对置的一侧。受光部设置于2次导电板使得与发光部对置,将来自发光部的光变换为电信号。第1导电部设置于与发光部对置的一侧,具有由于1次导电板与2次导电板之间的电位差而产生的电场集中的点。 | ||
搜索关键词: | 耦合 装置 | ||
【主权项】:
一种光耦合装置,具备:1次导电板;发光部,其设置于所述1次导电板,将电信号变换为光,并发出所述光;2次导电板,其与所述1次导电板空开间隔,设置于与所述发光部对置的一侧;受光部,其设置于所述2次导电板使得与所述发光部对置,并将来自所述发光部的光变换为电信号;和第1导电部,其设置于与所述发光部对置的一侧,具有由于所述1次导电板与所述2次导电板之间的电位差而产生的电场集中的点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的