[实用新型]新型连接测试座有效
| 申请号： | 201520964272.3 | 申请日： | 2015-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN205301367U | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 蒋卫兵;贺涛;王传刚;赵康 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型连接测试座，包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针，所述探针保持板的下端面设置有探针头部卡槽，所述测试探针的头部卡设在探针头部卡槽内，所述测试探针呈“十”字型，所述芯片插座主体上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述测试探针卡设在阶梯状通孔内，且所述测试探针的头部上套设有弹簧，所述测试探针的下端面设置有PIN测试插槽。本实用新型改探针与PIN的外部接触为探针与PIN内部接触以及PAD外部接触，用探针的内部与在芯片的PIN外部接触，在弹簧的下压下，将探针的外部与PAD接触。从而实现由一探针内外分别与PIN和PAD同时接触，减少了接触回路，增加接触可靠性，从而减少了回路损耗。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 连接 测试 | ||
【主权项】：
一种新型连接测试座，包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针，所述探针保持板的下端面设置有探针头部卡槽，所述测试探针的头部卡设在探针头部卡槽内，其特征在于：所述测试探针呈“十”字型，所述芯片插座主体上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述测试探针卡设在阶梯状通孔内，且所述测试探针的头部上套设有弹簧，所述测试探针的下端面设置有PI N测试插槽。
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