[实用新型]一种测量间隙、断差的光学测量设备有效

专利信息
申请号: 201520771408.9 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN205037870U 公开(公告)日: 2016-02-17
发明(设计)人: 吴伟;何柳;邱国良;王刚;孙鹏;范小卫;杜荣钦;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/14
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种测量间隙、断差的光学测量设备,包括:机柜;定位夹具模组,设置在所述机柜的台板上,用于夹紧固定待测产品;平台模组,设置在所述机柜的台板上;第一CCD模组,设置在所述平台模组上,用于检测待测产品的间隙尺寸;第二CCD模组,设置在所述平台模组上,用于确定待测产品的断差的点位坐标;激光测量模组,设置在所述平台模组上,用于检测经所述第二CCD模组确定的点位的断差尺寸;设置在所述机柜内的工控系统,用于控制所述平台模组、第一CCD模组、第二CCD模组及激光测量模组,以及对所述第一CCD模组、第二CCD模组和激光测量模组的测量数据进行分析判断。本光学测量设备结构简单、测量精确度高,且大大提高了设备的工作效率。
搜索关键词: 一种 测量 间隙 光学 设备
【主权项】:
一种测量间隙、断差的光学测量设备,其特征在于,包括:机柜;定位夹具模组,设置在所述机柜的台板上,用于夹紧固定待测产品;平台模组,设置在所述机柜的台板上;第一CCD模组,设置在所述平台模组上,用于检测待测产品的间隙尺寸;第二CCD模组,设置在所述平台模组上,用于确定待测产品的断差的点位坐标;激光测量模组,设置在所述平台模组上,用于检测经所述第二CCD模组确定的点位的断差尺寸;设置在所述机柜内的工控系统,用于控制所述平台模组、第一CCD模组、第二CCD模组及激光测量模组,以及对所述第一CCD模组、第二CCD模组和激光测量模组的测量数据进行分析判断。
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