[实用新型]光学元件面型检测调整座有效
| 申请号： | 201520553383.5 | 申请日： | 2015-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN205027335U | 公开（公告）日： | 2016-02-10 |
| 发明（设计）人： | 周佺佺 | 申请（专利权）人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人： | 蒲敏 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种可以准确调整定位的光学元件面型检测调整座。光学元件面型检测调整座，包括样品放置台面，还包括调整平台，所述样品放置台面设置在所述调整平台上，所述调整平台采用三个调整足支撑。本实用新型面形检测过程中，调节反射波面时不会遮挡被测元件，干扰反射光点的准确定位；调整幅度均匀可控，调整方向可以准确把握，反射波面与标准波面可以准确对应产生干涉，操作难度小，可准确方便地进行调节，从而提高了光学元件面形检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 元件 检测 调整 | ||
【主权项】：
光学元件面型检测调整座，包括样品放置台面(1)，其特征在于：还包括调整平台(2)，所述样品放置台面(1)设置在所述调整平台(2)上，所述调整平台(2)采用三个调整足(4)支撑，所述调整平台(2)为左右两个，所述样品放置台面(1)设置在所述左右两个调整平台(2)上，所述样品放置台面(1)通过支撑柱(3)设置在所述左右两个调整平台(2)上。
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