[发明专利]一种基于连通域的大幅面PCB板缺陷快速识别方法及系统有效

专利信息
申请号: 201510629501.0 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN105092598B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 程涛;孙高磊;冯平;徐刚;王燕燕 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01R31/02
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 王利彬
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于印制电路板监测领域,提供了一种基于连通域的大幅面PCB板缺陷快速识别方法,分别提取各自的所有目标区域的连通域,并进行标识,根据连通域的特征量进行计算筛选,删除一些在允许误差范围内的基本相同的连通域,筛选出缺陷连通域扫描图像和对应的缺陷连通域标准图像,然后进一步地通过差影分析找出两个图像连通域之间的差异,进而最终完成PCB的缺陷识别。本发明根据印制电路板的缺陷造成连通域的数目变化来判断出缺陷类型,本发明算法相对简单,通过图像匹配、连通域搜寻和差影分析即可检测出短路、断路、残铜、漏线等PCB典型缺陷。
搜索关键词: 一种 基于 连通 大幅面 pcb 缺陷 快速 识别 方法 系统
【主权项】:
一种基于连通域的大幅面PCB板缺陷快速识别方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤A,将采集到的PCB板扫描图像与标准图像处理为尺寸大小相一致;步骤B,分别查找出所述扫描图像和所述标准图像的连通域并进行标识,对所述扫描图像和所述标准图像中的同一连通域进行特征量比较计算,根据计算结果进行筛选和删除,得到缺陷连通域扫描图像和对应的缺陷连通域标准图像;步骤C,将所述缺陷连通域扫描图像与所述缺陷连通域标准图像按位异或,得到差影图;步骤D,将所述差影图与所述缺陷连通域扫描图像按位与,得到第一伪缺陷图;步骤E,取所述第一伪缺陷图中每一个缺陷连通域,与所述缺陷连通域标准图像按位或,判断PCB板缺陷;步骤F,将所述差影图与所述缺陷连通域标准图像按位与,得到第二伪缺陷图;步骤G,取所述第二伪缺陷图中每一个缺陷连通域,与所述缺陷连通域扫描图像按位或,判断PCB板缺陷。
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