[发明专利]空间辐射环境可靠性分析方法

摘要

本发明涉及一种空间辐射环境可靠性分析方法，以解决如何提高空间辐射环境可靠性分析结果的准确性。该方法包括：S1、将空间辐射环境下电子系统中预设层级的分析对象按照故障预警修复方式分为若干个组别；S2、计算预设层级的每一组别在空间辐射环境中的辐射应力作用下的失效率；S3、计算预设层级的相应组别在空间辐射环境下的总失效率；S4、计算空间辐射环境可靠性的分析指标的大小；S5、根据所述分析指标的大小，对所述空间辐射环境可靠性进行分析，得到分析结果。本发明在计算失效率的过程中考虑到了辐射应力，相对于现有技术中仅考其他虑物理应力的分析方法，提高了可靠性分析的准确性。

主权项

1.一种空间辐射环境可靠性分析方法，其特征在于，包括：S1、将空间辐射环境下电子系统中预设层级的分析对象按照故障预警修复方式分为若干个组别，其中，所述预设层级为系统级、设备级或器件级，系统级的分析对象为电子系统，设备级的分析对象为该电子系统中的设备，器件级的分析对象为该电子系统中的电子器件；S2、计算预设层级的每一组别在空间辐射环境中的辐射应力作用下的失效率；S3、根据预设层级的相应组别在空间辐射环境中的辐射应力作用下的失效率，计算预设层级的相应组别在空间辐射环境下的总失效率，其中所述总失效率包括辐射应力作用下的失效率和非辐射应力作用下的失效率；S4、根据预设层级中各组别的所述总失效率，计算空间辐射环境可靠性的分析指标的大小；S5、根据所述分析指标的大小，对所述空间辐射环境可靠性进行分析，得到分析结果。