[发明专利]用于介电参数的测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 201510345471.0 | 申请日： | 2015-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN106324360A | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 徐伟 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于介电参数的测量系统，包括：开路端、转接头、偏置T型接头、直流电源、矢量网络分析仪以及计算终端；该开路端与该转接头的一端相接，该转接头的另一端与该偏置T型接头的第一端相接，该偏置T型接头的第二端与该矢量网络分析仪相接，该矢量网络分析仪与该计算终端相连，该偏置T型接头的第三端与该直流电源相接，该矢量网络分析仪在偏置电压下，分别测得对应入射波频率在该开路端与该转接头之间未夹持待测材料时的第一反射系数和夹持待测材料时的第二反射系数，该计算终端用于根据该第一反射系数和该第二反射系数获得在该偏置电压下该待测材料响应于该入射波频率的介电参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 参数 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种用于介电参数的测量系统，包括：开路端、转接头、偏置T型接头、直流电源、矢量网络分析仪以及计算终端；所述开路端与所述转接头的一端相接，所述转接头的另一端与所述偏置T型接头的第一端相接，所述偏置T型接头的第二端与所述矢量网络分析仪相接，所述矢量网络分析仪与所述计算终端相连，所述偏置T型接头的第三端与所述直流电源相接，所述直流电源提供的偏置电压通过所述偏置T型接头施加至所述转接头的内外导体之间，所述矢量网络分析仪在所述偏置电压下，分别测得对应入射波频率在所述开路端与所述转接头之间未夹持待测材料时的第一反射系数和夹持待测材料时的第二反射系数，所述计算终端用于根据所述第一反射系数和所述第二反射系数获得在所述偏置电压下所述待测材料响应于所述入射波频率的介电参数。
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