[发明专利]一种基于有限测试点的构件残余应力场的预测方法有效
申请号: | 201510262690.2 | 申请日: | 2015-05-22 |
公开(公告)号: | CN104848969B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 毛宽民;王凤云;李斌 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01L1/00 | 分类号: | G01L1/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 廖盈春 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于有限测试点的构件残余应力场的预测方法,包括1、结构离散化;2、单元节点进行分类,建立位移形函数矩阵、单元应力函数矩阵,然后求解单元矩阵;3、根据单元矩阵,建立应力形质点残余应力向量列阵、整体节点载荷列阵、求解整体矩阵;4、根据整体矩阵的秩确定实验测试点个数、分布及测试;5、根据所测残余应力实验结果,作为残余应力边界条件,求得所有应力形质点残余应力;6、根据应力形质点残余应力和单元应力函数矩阵,求解到非应力形质点残余应力,从而可得构件的残余应力场。本发明可精确预测构件的残余应力,而且不受构件材料结构形状的限制,尤其在未知构件制造工艺以及复杂构件残余应力预测具有明显优势。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 有限 测试 构件 残余 力场 预测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于有限测试点的构件残余应力场的预测方法,其特征在于,包括:步骤1对构件建模并离散化,将所述构件划分为多个八节点六面体等参单元,其中所述构件整体节点个数为偶数,提取每一节点在整体坐标系xyz的坐标值,记录各单元的节点组成信息;步骤2对各单元的节点进行分类,选取每个单元的四个节点为该单元的应力形质点,未被选取的节点为该单元的非应力形质点,基于每个单元中八个节点在其局部坐标系ξηζ下的坐标值求解单元位移形函数矩阵N,基于每个单元中的应力形质点在其局部坐标系ξηζ下的坐标值求解单元应力函数矩阵M,然后根据求得的所述单元位移形函数矩阵N、所述单元应力函数矩阵M,求解单元矩阵ke;步骤3建立应力形质点残余应力向量列阵σ、整体节点载荷列阵R,并根据所述所有应力形质点残余应力向量列阵σ、所述整体节点载荷列阵R和所述单元矩阵ke,求解整体矩阵K;步骤4确定实验测试点个数、分布,对所述构件表面残余应力进行无损检测并记录每个实验测试点的6个应力分量;步骤5根据所述步骤3所得的所有应力形质点残余应力向量列阵σ、整体节点载荷列阵R、整体矩阵K,将所述步骤4所得的残余应力测试结果作为残余应力边界条件,代入关系式Kσ=R求得所有应力形质点残余应力;步骤6根据所述步骤5所得的所有应力形质点残余应力和所述步骤2所得的单元应力函数矩阵M,求解非应力形质点残余应力,从而可得所述构件的残余应力场。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510262690.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:静电电容型压力传感器、压力检测器及输入装置
- 下一篇:微型光谱仪