[发明专利]砝码检定方法

摘要

本发明提供了一种砝码检定方法，包括采用标准砝码盘、参检砝码盘以及待检砝码盘；对标准砝码盘、参检砝码盘和待检砝码盘进行检测，得到一组砝码盘质量差值；采用组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式，得到一组砝码盘质量修正值；将标准砝码和标准砝码盘设定为标准组件、将参检砝码和参检砝码盘设定为参检组件以及将待检砝码和待检砝码盘设定为待检组件；对标准组件、参检组件和各个待检组件的质量进行检测，得到一组组件质量差值；以及根据一组砝码盘质量修正值和一组组件质量差值，基于计算规则计算得到各个待检砝码的砝码质量修正值，从而得到与各个待检砝码相对应的多个质量检定结果。

主权项

一种砝码检定方法，按照组合比较法测量模式，对待检砝码组中多个待检砝码，使用标准砝码以及与所述待检砝码组中标称值最小的所述待检砝码相对应的参检砝码来进行检定，其特征在于，包括以下步骤：砝码盘采用步骤，采用用于盛放所述标准砝码的标准砝码盘、用于盛放所述参检砝码的参检砝码盘以及用于一一对应地盛放各个所述待检砝码的多个待检砝码盘；砝码盘质量差值获取步骤，首先采用所述组合比较法测量模式中的质量差值获取方式对所述标准砝码盘、所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的质量进行比较检测，得到所述标准砝码盘、所述参检砝码盘和所有的所述待检砝码盘之间的一组砝码盘质量差值；砝码盘质量修正值获取步骤，采用所述组合比较法测量模式中的质量修正值计算方式，基于所述一组砝码盘质量差值，得到分别与所述参检砝码盘和各个所述待检砝码盘的相对应的一组砝码盘质量修正值；组件设定步骤，将所述标准砝码和所述标准砝码盘设定为标准组件、将所述参检砝码和所述参检砝码盘设定为参检组件以及将各个所述待检砝码和对应的所述待检砝码盘分别设定为多个待检组件；组件质量差值获取步骤，采用所述组合比较法测量模式中的所述质量差值获取方式对所述标准组件、所述参检组件和各个所述待检组件的质量进行比较检测，得到所述标准组件、所述参检组件和所有的所述待检组件之间的一组组件质量差值；以及计算检定步骤，根据所述一组砝码盘质量修正值和所述一组组件质量差值，基于计算规则计算得到各个所述待检砝码的砝码质量修正值，从而得到与各个所述待检砝码相对应的多个质量检定结果，其中，在所述砝码盘质量差值获取步骤中，当需要把至少两个砝码盘放在一起进行所述比较检测时，所述砝码盘是被层层叠加放置在比较仪的秤盘上，在所述组件质量差值获取步骤中，当需要把至少两个组件放在一起进行所述比较检测时，所述组件是被层层叠加放置在所述秤盘上，在每个所述组件中的所述砝码相对于所述砝码盘的放置位置相同。