[发明专利]抗噪性评估装置和评估抗噪性的方法有效
| 申请号： | 201510067315.2 | 申请日： | 2015-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN105277819B | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 奈良茂夫 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 吕俊刚,刘久亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 抗噪性评估装置和评估抗噪性的方法。一种抗噪性评估装置对包括一对输入信号端口、一对输出信号端口以及用于噪声信号的输入的噪声信号端口的设备的S参数进行测量；计算噪声信号端口与一对输入信号端口之间的S参数之间的差，或者计算噪声信号端口与一对输出信号端口之间的S参数之间的差，作为评估指数；获取通过执行快速傅立叶变换而获得的第一频谱，所述快速傅立叶变换针对通过对噪声信号执行电磁场分析而获得的电压波形执行，并且计算作为第一频谱与评估指数的乘积的第二频谱；以及在第二频谱中提取具有局部最大电压值的频率作为用于评估抗噪性的频率。 | ||
| 搜索关键词： | 抗噪性 评估 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种抗噪性评估装置，该装置包括：S参数测量部，该S参数测量部测量受测试设备的S参数，所述受测试设备包括至少一对输入信号端口、一对输出信号端口以及用于噪声信号的输入的噪声信号端口；评估指数计算部，该评估指数计算部计算所述S参数中的、所述噪声信号端口与所述一对输入信号端口之间的S参数之间的差，或者计算所述S参数中的、所述噪声信号端口与所述一对输出信号端口之间的S参数之间的差，作为评估指数；第二频谱计算部，该第二频谱计算部获取通过执行快速傅立叶变换而获得的第一频谱，所述快速傅里叶变换是针对通过对输入到所述噪声信号端口的所述噪声信号执行电磁场分析而获得的电压波形执行的，并且所述第二频谱计算部计算作为所述第一频谱与所述评估指数的乘积的第二频谱；以及频率提取部，该频率提取部在所述第二频谱中提取电压达到局部最大值的频率作为评估抗噪性的频率。
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