[发明专利]一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头有效
| 申请号： | 201510021606.8 | 申请日： | 2015-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN104535212B | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 高炳亮;王兆文;侯剑峰;石忠宁;胡宪伟;于江玉 | 申请（专利权）人： | 东北大学 |
| 主分类号： | G01K7/04 | 分类号： | G01K7/04;G01N25/12;C25C3/06 |
| 代理公司： | 沈阳东大知识产权代理有限公司21109 | 代理人： | 梁焱 |
| 地址： | 110819 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头，包括探头Ⅰ和探头Ⅱ，每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成；温度传感器的上部固定在保护套管内；其中探头Ⅰ的底部固定有一个取样室，取样室由中间槽和测量筒组成，中间槽内壁上方与探头Ⅰ的保护套管外壁相配合并固定在一起；中间槽和测量筒之间设有通道，探头Ⅰ的传感器通过该通道插入测量筒内。本发明的装置方法适用于各种成分的电解质温度测量；探头Ⅰ底端的取样室可保护传感器不受熔体流动的影响，重复测量不需要处理附着的电解质，便于操作且有利于延长保护套管的寿命。本发明的装置及方法具有测量结果准确，重复测量稳定，便于操作的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 电解质 温度 传感器 探头 | ||
【主权项】：
一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头，包括探头Ⅰ和探头Ⅱ，每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成；温度传感器的上部固定在保护套管内；其特征在于：探头Ⅰ的底部固定有一个取样室，取样室由中间槽和测量筒组成，中间槽内壁上方与探头Ⅰ的保护套管外壁相配合并固定在一起；中间槽和测量筒之间设有通道，探头Ⅰ的传感器通过该通道插入测量筒内；所述的探头Ⅱ的保护套管底端设有封闭的小孔，探头Ⅱ的传感器底端与小孔底壁接触；小孔孔径与探头Ⅱ的传感器的外径的差≤3mm；所述的探头Ⅰ的温度传感器的底端延伸出取样室的测量筒内壁1~9毫米；所述的取样室的测量筒内径在2~10毫米。
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