[发明专利]通过溶剂提取测定样品基质中的分析物有效
申请号: | 201480082331.2 | 申请日: | 2014-10-20 |
公开(公告)号: | CN107110759B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | C·Z·比斯加德;M·达尔;C·霍尔姆 | 申请(专利权)人: | 福斯分析仪器公司 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01N1/40;A23L5/20 |
代理公司: | 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 | 代理人: | 郑洪成 |
地址: | 丹麦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 通过溶剂提取测定样品基质中的分析物。用于检定样品基质中一种或多种分析物的方法,包括以下步骤:在样品基质上进行分析物提取,所述分析物提取包括在提取周期内将样品基质与溶剂组合,提取周期小于达到平衡所需的时间;并从样品基质中分离含有分析物的溶剂;接下来测量分离的溶剂中存在的分析物的水平;然后在计算机中应用校准,通过该校准建立借助于上述在样品基质的提取中使用的过程从多个参考样品中的每一个提取的分析物的水平与每个参考样品的分析物水平的参考值之间的数学关系,从而得到样品基质中分析物水平的量度。具体地说,一种通过与包含水醇混合物的溶剂与体积为20‑40%乙醇的混合来测定谷粒中霉菌毒素、尤其是OTA(赭曲霉毒素A)和DON(脱氧雪腐镰刀菌烯醇)的的量的方法。 | ||
搜索关键词: | 通过 溶剂 提取 测定 样品 基质 中的 分析 | ||
【主权项】:
用于定量检定样品基质中一种或多种分析物的方法,包括以下步骤:A)在多个参考样品基质上进行分析物提取,每个参考样品基质具有不同的分析物参考值水平,所述分析物提取包括在相同的提取周期内将每个样品基质与溶剂混合,所述提取周期小于达到平衡所需的时间;并从样品基质中分离含有分析物的溶剂;B)测量从每个参考样品基质获得的分离的溶剂中存在的分析物的水平;C)生成计算机可执行校准,由该计算机可执行校准建立从每个参考基质提取的分析物的测量水平与每个参考基质的分析物的参考水平之间的数学关系;D)基本上重复步骤A和B,将具有未知水平分析物的相同类型的样品基质替换为参考样品基质,以获得用于样品基质的分离溶剂中分析物水平的量度;以及E)在计算机中将在步骤C生成的校准应用于在步骤D确定的分析物水平,从而得出样品基质中分析物水平的量度。
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