[发明专利]用以对电磁体产生的磁场进行测量和闭环控制的装置有效
| 申请号： | 201480035091.0 | 申请日： | 2014-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN105339803B | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 艾克·福尔德梅耶 | 申请（专利权）人： | 海德堡离子射线治疗(HIT)海德堡大学综合诊所企业有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00 |
| 代理公司： | 深圳市沈合专利代理事务所(特殊普通合伙)44373 | 代理人： | 沈祖锋 |
| 地址： | 德国海德堡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用以对电磁体(5,12,15)产生的磁场进行测量和闭环控制的装置，包括用于测量磁场的绝对磁场强度的第一测量装置(10)、用于测量磁场的磁场强度变化的第二测量装置(11)、至少两个用于确定所述第二测量装置(11)测量的磁场强度变化的磁场强度的积分器(20)，所述积分器相互平行布设、校准装置、用于比较由所述第一测量装置(10)和所述第二测量装置(11)测量的磁场强度的单元和用于将测量的磁场强度与指定设计磁场强度进行比较的另一单元。还提供了一方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 磁体 产生 磁场 进行 测量 闭环控制 装置 | ||
【主权项】：
一种用以对电磁体(5,12,15)产生的磁场进行测量和闭环控制的装置，包括：用于测量磁场的磁场强度的第一测量装置(10)；用于测量所述磁场的磁场强度变化的第二测量装置(11)；用于确定所述第二测量装置(11)测量的磁场强度变化的磁场强度的至少两个积分器(20)，所述至少两个积分器相互平行布设；校准装置；以及用于比较由所述第一测量装置(10)和所述第二测量装置(11)测量的磁场强度的单元和用于将所述测量的磁场强度与指定设计磁场强度进行比较的另一单元；其中所述至少两个积分器(20)被布置成使得其中一个积分器(20)对由所述第二测量装置(11)测量的多个值进行积分，同时另一个积分器(20)运行一个校准周期。
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