[发明专利]异物检测装置、异物检测方法以及非接触充电系统有效
申请号: | 201480008212.2 | 申请日: | 2014-02-18 |
公开(公告)号: | CN105075062B | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 宫下功宽 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01V3/10 | 分类号: | G01V3/10;H02J50/10;H02J50/60;H02J7/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 韩聪 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 异物检测装置(100)为了能够区分水和金属来检测异物,具备检测用线圈(103);发送电路(101),其生成给定的频率的高频功率;方向性耦合器(107),其将来自发送电路(101)的高频功率输出到检测用线圈(103),并提取从检测用线圈(103)反射的功率分量即反射功率;和检测电路(108),其接收由方向性耦合器(107)提取的反射功率,根据反射功率的频率特性的变化来检测异物。 | ||
搜索关键词: | 异物 检测 装置 方法 以及 接触 充电 系统 | ||
【主权项】:
一种异物检测装置,具备:检测用线圈;发送电路,其生成给定的频率的高频功率;方向性耦合器,其将来自所述发送电路的高频功率输出到所述检测用线圈,并提取从所述检测用线圈反射的功率分量即反射功率;平衡不平衡变换电路,其将经由方向性耦合器输入的高频功率即不平衡信号变换为平衡信号;匹配电路,其进行所述平衡不平衡变换电路和所述检测用线圈之间的阻抗匹配;和检测电路,其接收由所述方向性耦合器提取的反射功率,在所述反射功率的匹配频率高于基准匹配频率的情况下检测为异物是金属,在所述反射功率的匹配频率低于基准匹配频率的情况下检测为异物是水。
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