[实用新型]通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件有效

专利信息
申请号: 201420757640.2 申请日: 2014-12-07
公开(公告)号: CN204374473U 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 王继平;胡伟琴;吕晶 申请(专利权)人: 杭州麦乐克电子科技有限公司
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 周豪靖
地址: 311188 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Si、SiO为第二镀膜层,且所述基板设于第一镀膜层与第二镀膜层之间。本实用新型所得到的一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度,适合于大范围的推广和使用。该滤光敏感元件50%Cut on=4200±20nm,50%Cut on=4450±20nm,4250~4400nm,T≥88%,Tavg≥92%,1000~4000nm,4600~7000nm,T≤3%。
搜索关键词: 通过 4200 4450 nm 红外 滤光 敏感 元件
【主权项】:
一种通过带为4200‑4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板(2),以Ge、SiO为第一镀膜层(1)和以Si、SiO为第二镀膜层(3),且所述基板(2)设于第一镀膜层(1)与第二镀膜层(3)之间,其特征是所述第一镀膜层(1)由内向外依次排列包含有127nm厚度的Ge层、253nm厚度的SiO层、127nm厚度的Ge层、283nm厚度的SiO层、109nm厚度的Ge层、260nm厚度的SiO层、150nm厚度的Ge层、247nm厚度的SiO层、243nm厚度的Ge层、328nm厚度的SiO层、165nm厚度的Ge层、317nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、609nm厚度的SiO层、260nm厚度的Ge层、206nm厚度的SiO层、93nm厚度的Ge层、612nm厚度的SiO层、265nm厚度的Ge层、1073nm厚度的SiO层、335nm厚度的Ge层、881nm厚度的SiO层、393nm厚度的Ge层、860nm厚度的SiO层、408nm厚度的Ge层、438nm厚度的SiO层;所述的第二镀膜层(3)由内向外依次排列包含有106nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、2500nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、572nm厚度的SiO层、326nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的SiO层、369nm厚度的Si层、499nm厚度的SiO层、300nm厚度的Si层、731nm厚度的SiO层。
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