[实用新型]阵列基板测试装置有效
| 申请号： | 201420743562.0 | 申请日： | 2014-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN204214973U | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 吴金力 | 申请（专利权）人： | 昆山龙腾光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人： | 王春丽 |
| 地址： | 215301 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种阵列基板测试装置，属于测试技术领域。所述阵列基板测试装置包括：框架、探针板以及多个连接器，框架，具有至少一定位孔；探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，多路选择器探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在多路选择器框架上，以使多路选择器探针槽内的探针与多路选择器待测阵列基板的导电触点相对准并接触；多个连接器，固定于多路选择器框架上，并根据多路选择器待测阵列基板的导电触点位置选择性地与多路选择器探针槽内的探针电性连接。本实用新型的阵列基板测试装置可以共用，从而节省了资源浪费，降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列基板测试装置，其特征在于，包括：框架，具有至少一定位孔；探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，所述探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在所述框架上，以使所述探针槽内的探针与所述待测阵列基板的导电触点相对准并接触；多个连接器，固定于所述框架上，并根据所述待测阵列基板的导电触点位置选择性地与所述探针槽内的探针电性连接。
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