[实用新型]阵列基板测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种阵列基板测试装置。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点，目前在平板显示领域占主导地位。液晶显示装置非常适合应用在台式计算机、掌上型计算机、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、便携式电话、电视盒等多种办公自动化和视听设备中。

液晶显示面板是液晶显示装置的主要组成部分。通常，液晶显示面板包括阵列基板、彩色滤光片基板以及液晶层，液晶层填充于阵列基板和彩色滤光片基板之间。其中，阵列基板和彩色滤光片基板的四周通过封框胶进行密封。阵列基板在制作完成后，需要利用阵列基板测试装置对阵列基板检测以确认其是否能够正常工作。测试时首先通过测试装置上的探针与待测阵列基板上的信号接入点(例如导电触点)接触，以对阵列基板输入电源信号，然后再利用测试装置对阵列基板进行测试。

目前，由于不同类型的阵列基板上的信号接入点的数目以及配置位置都不同，对于每一种类型的阵列基板需要配置相应的阵列基板测试装置，不同类型的阵列基板不能共用同一种阵列基板测试装置，如果要完成对不同类型的阵列基板的测试，必须配备有对应不同类型的阵列基板测试装置。

图1为现有的阵列基板测试装置的俯视示意图，如图1所示，此类型的阵列基板测试装置包括框架11、探针板12、多路选择器13、以及连接器15。

框架11为一矩形平板，该平板具有一背面，以及与该背面相对的表面为承载面。在承载面上设置至少一个定位孔14，以将探针板12的两端固定在框架11上。该探针板12大致呈一矩形板状，其上间隔设有多个探针槽16。每个探针槽16内安装有多个探针，该探针用于与待测阵列基板上设置的导电触点相对准并接触。

对待测阵列基板测试的整个过程可分为加电过程和测试过程，加电过程采用而是图1的阵列基板测试装置，首先将图1的多路选择器13与电源(图中未示出)电性相连，以接收电源输出的电源信号，并将电源信号传输给与其相连的连接器15，连接器15将电源信号传输给与其相连的探针板12的探针，以使探针向与之接触的待测阵列基板的导电触点提供电源信号，这样，电源提供的电源信号最终就会传输给待测阵列基板，以达到给待测阵列基板加电的目的。而测试过程为目前的通用做法，其均是对待测阵列基板加电后，再将待测阵列基板与测试装置(图中未示出)电性相连，以对待测阵列基板进行测试。

由于上述阵列基板测试装置的加电过程是根据特定的阵列基板而配置的阵列基板测试装置，此阵列基板测试装置上仅根据一种类型的待测阵列基板而配置有相应类型的探针板、框架、连接器等部件。因此，利用单一类型阵列基板测试装置不能用来测试多种类型的阵列基板。这样就会造成资源浪费，测试效率低，并且不同类型的阵列基板测试装置势必占用了大量仓储空间，增加了成本。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种阵列基板测试装置，以解决现有的阵列基板测试装置无法共用等问题。

本实用新型实施例提供一种阵列基板测试装置，所述阵列基板测试装置，包括：框架、探针板以及多个连接器，框架，具有至少一定位孔；探针板，设有至少一个探针槽，每个探针槽内安装有多个探针，其中，多路选择器探针板以可拆卸的方式，根据待测阵列基板的导电触点位置利用该至少一定位孔固定在多路选择器框架上，以使多路选择器探针槽内的探针与多路选择器待测阵列基板的导电触点相对准并接触；多个连接器，固定于多路选择器框架上，并根据多路选择器待测阵列基板的导电触点位置选择性地与多路选择器探针槽内的探针电性连接。

在本实用新型的一个实施例中，所述定位孔设置在框架的四周并围成一圈，以将探针板的两端固定在框架的不同位置。

在本实用新型的一个实施例中，相邻定位孔之间的距离为5mm-15mm之间，优选地，为10mm。

在本实用新型的一个实施例中，所述阵列基板测试装置还包括设置于定位孔一侧的与电源相连的多路选择器，多路选择器设有多个接口，每一接口通过信号线选择性地与其中一连接器电性连接。

在本实用新型的一个实施例中，所述探针板的两端开设通孔，定位孔为螺孔，通过螺钉依次穿过探针板两端的通孔及定位孔，以将探针板的两端锁固在框架上。

在本实用新型的一个实施例中，所述探针板的两端开设的通孔与定位孔的孔径大小一致。