[发明专利]集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置在审
| 申请号： | 201410798756.5 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104535950A | 公开（公告）日： | 2015-04-22 |
| 发明（设计）人： | 周厚平;李轩冕 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R15/00 |
| 代理公司： | 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) 42212 | 代理人： | 胡清堂;覃波 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组测试通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组测试通道接口的类型排布完全一致，所述校准通道接口依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有测试通道接口都校准完成。通过对集成电路测试系统的通道接口按组划分，并分组校准，达到对集成电路测试系统上千个通道接口校准的准确切换，且缩短了大规模的切换矩阵和模块切换路径，提高了抗干扰的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 系统 通道 对称 校准 方法 及其 接口 转换 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，其特征在于，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组测试通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组测试通道接口的类型排布完全一致，所述校准通道接口依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有测试通道接口都校准完成。
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