[发明专利]基于电子经纬仪的精测系统的磁试验室磁场基准建立方法有效

专利信息
申请号: 201410797546.4 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN104501785A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 韩飞;叶政伟 申请(专利权)人: 深圳航天东方红海特卫星有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01C1/00
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 代理人: 张立娟
地址: 518057广东省深圳市南山区科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种基于电子经纬仪的精测系统的磁试验室磁场基准建立方法,应用电子经纬仪的精度测量系统建立精度基准及基准转移,实现磁试验设施的磁场精测基准建立,并以此为基准测量卫星在磁场中的方向精度。本发明的方法能解决卫星总装精测所不能解决的磁场基准转移问题,通过本发明的方法可建立磁场基准与磁试验室测量基准的关系,完成磁试验过程基准转移问题。
搜索关键词: 基于 电子 经纬仪 系统 试验室 磁场 基准 建立 方法
【主权项】:
一种基于电子经纬仪的精测系统的磁试验室磁场基准建立方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:第一步,布置磁试验室:在磁试验室的磁试验线圈框架上安装精测立方镜,命名为AC1;卫星位于磁试验线圈框架的中央,在卫星整星上安装精测立方镜,命名为AC2;以磁线圈南北向支架同一侧边沿水平连线由南指向北为磁场X正向,以磁线圈东西向支架同一侧边沿水平连线由东指向西为磁场Y正向,磁场Z向与Y、X向成右手坐标系;第二步,建立磁场基准与磁试验室测量基准之间的关系:经纬仪T1瞄向磁场坐标系+X向,T2瞄向磁场坐标系‑Y向,T3瞄向基准立方镜‑Y向,T4瞄向基准立方镜+Z向;通过2台经纬仪确定磁试验磁场基准,通过另2台经纬仪确定磁试验室测量基准,即精测立方镜AC1,4台经纬仪互瞄解算以确定磁试验室磁场基准与测量基准之间的关系;第三步,建立卫星整星基准与磁试验室基准之间的关系:经纬仪T1瞄向基准立方镜+X向,T2瞄向基准立方镜‑Y向,T3瞄向基准立方镜‑Y向,T4瞄向基准立方镜+Z向;通过2台经纬仪确定卫星整星基准,即精测立方镜AC2,通过另2台经纬仪确定磁试验室测量基准,即精测立方镜AC1,4台经纬仪互瞄解算以确定卫星整星基准与磁试验室基准之间的关系;第四步,解算出卫星整星基准与磁场基准之间的关系。
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