[发明专利]一种基于滤光单元的光辐射测量方法及其装置有效
| 申请号： | 201410596998.6 | 申请日： | 2014-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN105628190B | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;杨静;周超;杨培芳 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于滤光单元的光辐射测量方法及其装置，通过引入少量校正滤光单元，无需大量窄波段滤色片即可获得整个探测波段内的光谱功率分布，还可利用该光谱功率分布校正由特征滤色单元的实际光谱响应函数和理论光谱响应函数的差异，对光色度量值引入的测量误差，还原待测目标真实的颜色、亮度等方面的信息，可适用于几乎所有类型的探测器，且具有操作简便、成本低、响应速度快、测量准确度高等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 滤光 单元 光辐射 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种基于滤光单元的光辐射测量方法，其特征在于，包括一个或以上探测单元(1)、n种特征滤色单元(2)、m个校正滤光单元(3)，其中，n≥2、m≥2，已知探测单元(1)和特征滤色单元(2)的组合光谱响应以及校正滤光单元(3)的透过率；在探测单元(1)前设置特征滤色单元(2)和校正滤光单元(3)，待测目标在不同特征滤色单元(2)和不同校正滤光单元(3)的组合作用下被探测单元(1)接收，通过两者组合获得待测目标的多个实测响应值；在待测波段内选取一个或以上采样区域，根据对应的实测响应值表达式联立方程组，计算出待测波段内的光谱功率分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州远方光电信息股份有限公司，未经杭州远方光电信息股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410596998.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
