[发明专利]一种用于检测换档齿套的综合检具在审
| 申请号： | 201410591878.7 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN104315940A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 段含辉 | 申请（专利权）人： | 重庆永达精密机械有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00;G01B5/252 |
| 代理公司： | 重庆市前沿专利事务所(普通合伙) 50211 | 代理人： | 刘兴顺 |
| 地址： | 402761*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于检测换档齿套的综合检具，定位芯轴为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段、第一圆柱段、螺纹段和第二圆柱段，这四段的直径依次减小；定位芯轴的第一圆柱段套装有一个量规，量规夹紧在外花键段与锁紧螺母之间，锁紧螺母套装在定位芯轴的螺纹段上；量规的直径大于外花键段直径，量规左端面的边缘设有四个换档凸块检测块，这四个换档凸块检测块沿量规的周向均布，四个换档凸块检测块在同一个圆周上，圆周的中心线与定位芯轴的轴心线重合。本发明能检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心，这样就可以很好地满足检测要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 换档 综合 | ||
【主权项】：
一种用于检测换档齿套的综合检具，其特征在于：包括定位芯轴(1)和锁紧螺母(3)，其中定位芯轴(1)为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段(1a)、第一圆柱段(1b)、螺纹段(1c)和第二圆柱段(1d)，这四段的直径依次减小；所述定位芯轴(1)的第一圆柱段(1b)套装有一个量规(2)，该量规夹紧在外花键段(1a)与所述锁紧螺母(3)之间，且锁紧螺母套装在定位芯轴(1)的螺纹段(1c)上；所述量规(2)的直径大于外花键段(1a)直径，该量规(2)左端面的边缘设有四个换档凸块检测块(2a)，这四个换档凸块检测块沿量规(2)的周向均布，且四个换档凸块检测块(2a)在同一个圆周上，该圆周的中心线与所述定位芯轴(1)的轴心线重合。
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