[发明专利]一种半自动光伏电阻测试装置在审
| 申请号： | 201410562787.0 | 申请日： | 2014-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN105513988A | 公开（公告）日： | 2016-04-20 |
| 发明（设计）人： | 薄利 | 申请（专利权）人： | 薄利 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110001 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半自动光伏电阻测试装置，其特征在于：包括矩形的基板（1）、探针（2）、万用表（3）和若干导线（4），所述基板（1）选用绝缘材料制成，优选为聚四氟乙烯材料；所述基板（1）的上表面开设有两道平行的槽，两道槽之间的间距为3mm,槽的深度为2mm；所述槽与基板（1）的一侧边垂直，两道槽内均嵌置有探针（2），所述探针（2）的外端通过导线（4）连接万用表（3）的两个接线端。本发明结构简单，设计新颖，测试方便，结果准确，且节约成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半自动 电阻 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种半自动光伏电阻测试装置，其特征在于：包括矩形的基板（1）、探针（2）、万用表（3）和若干导线（4）。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
