[发明专利]一种针对超连续光源的光谱分束测量方法及装置

摘要

一种针对超连续光源的光谱分束测量方法及装置，使用三个光纤准直器和一个长波通滤光片或短波通滤光片，超连续光源通过尾纤输出的超连续光谱通过一个光纤准直器被准直，进而入射至长波通滤光片或短波通滤光片上，根据长波通滤光片或短波通滤光片的截止波长分为长波和短波两个部分被长波通滤光片或短波通滤光片透射或反射，透射或反射出的两路光再分别各经过一个光纤准直器耦合入待测物中，再分别采用对应量程的两个光谱仪同时分别测量待测物的透射光谱。本发明实现了在超连续光源整个光谱范围内同时使用光栅光谱仪进行超宽带无缝测量。本发明的装置不需要在每次测量之前调节光路更换不同的窄带滤光片，既省时省力，降低了成本，又增加了装置的稳定性和可靠性。

主权项

一种针对超连续光源的光谱分束测量方法，其特征在于，使用三个光纤准直器和一个长波通滤光片或短波通滤光片，超连续光源通过尾纤输出的超连续光谱通过一个光纤准直器被准直，进而入射至长波通滤光片或短波通滤光片上，根据长波通滤光片或短波通滤光片的截止波长分为长波和短波两个部分被长波通滤光片或短波通滤光片透射或反射，透射或反射出的两路光再分别各经过一个光纤准直器耦合入待测物中，再分别采用对应量程的两个光谱仪同时分别测量待测物的透射光谱，所述长波通滤光片或短波通滤光片的截止波长大于测量长波部分光谱所用光谱仪的量程短波限。