[发明专利]一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列在审
| 申请号： | 201410476440.4 | 申请日： | 2014-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN105425272A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01T1/40 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 成金玉;孟卜娟 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列，由不同长度的吸收体构成，所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则，即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时，经过吸收体阵列衰减后，出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本发明的优点是数据之间彼此离散，串扰减小，解谱精度提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 通量 射线 吸收体 阵列 | ||
【主权项】：
一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列，其特征在于：所述吸收体阵列由一系列圆柱形的不同长度的吸收体构成一个阵列，圆柱形的不同长度的吸收体的轴平行排列；所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则，即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时，经过吸收体阵列衰减后，出射的X射线的能量衰减是等间隔的。
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