[发明专利]用于测试电导体的装置和方法有效
| 申请号： | 201410464863.4 | 申请日： | 2014-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN104459504B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | M·内尔希贝尔;B·扎加尔;A·奥斯特洛;P·法尼克 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测试电导体的测试设备包括探头，该探头被配置为测量由被测器件(DUT)的一个或多个电导体中的电流引起的磁场。输出发生器被配置为生成输出数据，其中输出数据依赖于测量的磁场。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 导体 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试电导体的测试设备，包括：探头，被配置为当向半导体器件施加电压时测量流经所述半导体器件的至少两个焊线的电流引起的磁场，其中所述至少两个焊线以平行连接被布置；以及控制单元，被配置为判定所述至少两个焊线中的一个或多个是否在电学上有缺陷，其中所述判定依赖于所测量的磁场。
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