[发明专利]一种空间单粒子效应测试方法有效

专利信息
申请号: 201410451782.0 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN104237685B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 安恒;杨生胜;薛玉雄;把得东;马亚莉;曹洲 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/303
代理公司: 北京理工大学专利中心11120 代理人: 付雷杰,仇蕾安
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种空间单粒子效应测试方法,能够实现单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁的实时测试和存储;能够全面表征单粒子效应,为航天器抗单粒子效应加固设计提供综合性的可靠依据;本发明中建立的集成化的空间单粒子效应测试系统,采用两个单粒子效应传感器即可测试三种单粒子效应,同时,两个传感器共用一套测试系统,实现了测试系统的集成化,同时也为实现测试系统的小型化奠定了基础。
搜索关键词: 一种 空间 粒子 效应 测试 方法
【主权项】:
一种空间单粒子效应测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、建立集成化的空间单粒子效应测试系统:该系统包括单粒子软错误传感器、单粒子硬错误传感器、前端信号调理电路、逻辑状态监测电路、电流监测电路、锁定判定及防护电路、数据处理及控制模块以及上位机;所述单粒子软错误传感器分别与逻辑状态监测电路和电流监测电路相连;所述单粒子硬错误传感器与前端信号调理电路相连;所述前端信号调理电路与电流监测电路和数据处理及控制模块分别相连;所述电流监测电路、逻辑状态监测电路以及锁定判定及防护电路分别与数据处理及控制模块相连;所述锁定判定及防护电路与所述电流监测电路相连;所述数据处理及控制模块又与上位机相连;所述单粒子软错误传感器为存储型芯片,接收辐照源的辐照;所述单粒子硬错误传感器为功率MOSFET型芯片,接收辐照源的辐照;步骤2、选择所要进行的单粒子效应测试:当需要对单粒子烧毁效应进行测试时:(1)、对所述空间单粒子效应测试系统上电,并初始化参数;(2)、根据空间的辐照环境,选择辐照源,并确定辐照源发射的粒子能量后对所述单粒子硬错误传感器进行辐照;(3)、所述前端信号调理电路接收所述单粒子硬错误传感器的工作电流信号并进行前期处理,包括:将工作电流与烧毁阈值进行比较,当出现工作电流大于烧毁阈值的情况时,判断产生单粒子烧毁效应,累计单粒子硬错误传感器发生的烧毁次数并记录此时的工作电流,将所述烧毁次数发给所述数据处理及控制模块,并对工作电流进行平滑滤波和降压处理,再将降压后工作电流发送给所述电流监测电路,执行步骤(4);若单粒子硬错误传感器工作电流没有超过烧毁阈值电流,执行步骤(5);(4)、所述电流监测电路将单粒子硬错误传感器的工作电流送至数据处理及控制模块;所述数据处理及控制模块对单粒子硬错误传感器的工作电流进行数字化处理,然后将该工作电流以及烧毁次数上传至上位机;所述上位机对所述单粒子硬错误传感器工作电流以及烧毁次数进行存储和显示;然后对空间单粒子效应测试系统断电并更换单粒子效应硬错误传感器,返回执行步骤(3);(5)、判断获得的烧毁次数和记录的工作电流是否满足试验要求,若不满足,调整辐照源发射的粒子能量后,返回执行步骤(3);若满足,则结束试验;当需要对单粒子锁定效应和单粒子翻转效应进行测试时:①、对所述空间单粒子效应测试系统上电,并初始化参数:②、根据空间的辐照环境,选择辐照源,并确定辐照源发射的粒子能量后对所述单粒子软错误传感器进行辐照;③、所述电流监测电路实时监测单粒子软错误传感器的工作电流,并将该工作电流送至数据处理及控制模块和锁定判定及防护电路;④、所述数据处理及控制模块接收单粒子软错误传感器的工作电流后对其进行数字化处理,并上传至上位机;所述锁定判定及防护电路对单粒子软错误传感器的工作电流进行实时判定:当该工作电流超过锁定阈值时,则判断发生单粒子锁定效应,累计单粒子软错误传感器的锁定次数,并将锁定次数和锁定命令发给所述数据处理及控制模块;所述数据处理及控制模块接收到锁定命令后,数据处理及控制模块控制电流监测电路泄放单粒子软错误传感器的工作电流,对单粒子软错误传感器进行降压;同时,将所述锁定次数上传给上位机;所述上位机对单粒子软错误传感器的工作电流以及锁定次数进行存储和显示;对所述空间单粒子效应测试系统断电并重启,返回步骤③,继续进行试验;若单粒子效应软错误传感器工作电流没有超过锁定阈值,则执行步骤⑤;⑤、所述逻辑状态监测电路实时监测单粒子软错误传感器的逻辑状态,若发生单粒子翻转,记录逻辑状态发生翻转的存储单元地址,之后将逻辑状态变化值以及逻辑状态发生翻转的存储单元地址送至数据处理及控制模块;数据处理及控制模块将逻辑状态变化值以及逻辑状态发生翻转的存储单元地址上传给上位机;若没有发生单粒子翻转,则执行步骤⑥;所述上位机对接收到的单粒子软错误传感器的工作电流以及逻辑状态变化值和逻辑状态发生翻转的存储单元地址进行存储和显示;⑥判断获得的锁定次数和记录的工作电流是否满足试验要求:若不满足,调整辐照源发射的粒子能量,然后返回执行步骤③;若满足,则结束试验。
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