[发明专利]基于UVM验证方法学的只读寄存器验证测试平台及验证方法在审
| 申请号： | 201410440069.6 | 申请日： | 2014-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN105446844A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 茅乾博 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于UVM验证方法学的只读寄存器验证测试平台，包括：一基于UVM验证方法学的测试框架，其包括UVM测试序列，UVM序列发生器；一待测设计模块，其为具有寄存器及寄存器读写总线接口的数字设计模块；所述基于UVM验证方法学的测试框架通过寄存器读写总线接口与待测设计模块相连接；所述UVM测试序列能够调用UVM序列发生器，所述UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口驱动待测设计模块；所述UVM测试序列通过VPI接口对待测设计模块内部信号进行赋值改写。本发明还公开了一种基于UVM验证方法学的只读寄存器验证方法。本发明能有效提高验证效率，增加验证可信度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 uvm 验证 法学 只读 寄存器 测试 平台 方法 | ||
【主权项】：
一种基于UVM验证方法学的只读寄存器验证测试平台，其特征在于，包括：一基于UVM验证方法学的测试框架，其包括UVM测试序列，UVM序列发生器；一待测设计模块，其为具有寄存器及寄存器读写总线接口的数字设计模块；所述基于UVM验证方法学的测试框架通过寄存器读写总线接口与待测设计模块相连接；所述UVM测试序列能够调用UVM序列发生器，所述UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口驱动待测设计模块；所述UVM测试序列通过VPI接口对待测设计模块内部信号进行赋值改写。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司，未经上海华虹集成电路有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410440069.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：混频器和使用该混频器的射频接收机
- 下一篇：对系统文件进行修复的方法及装置
