[发明专利]基于UVM验证方法学的只读寄存器验证测试平台及验证方法在审
| 申请号： | 201410440069.6 | 申请日： | 2014-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN105446844A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 茅乾博 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 uvm 验证 法学 只读 寄存器 测试 平台 方法 | ||
1.一种基于UVM验证方法学的只读寄存器验证测试平台，其特征在于，包括：
一基于UVM验证方法学的测试框架，其包括UVM测试序列，UVM序列发生器；
一待测设计模块，其为具有寄存器及寄存器读写总线接口的数字设计模块；
所述基于UVM验证方法学的测试框架通过寄存器读写总线接口与待测设计模块相连接；所述UVM测试序列能够调用UVM序列发生器，所述UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口驱动待测设计模块；所述UVM测试序列通过VPI接口对待测设计模块内部信号进行赋值改写。
2.如权利要求1所述的验证测试平台，其特征在于：所述UVM测试序列将待测只读寄存器地址、数据以及相关总线控制信号传递给UVM序列发生器；UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口将上述信号按照约定的时序驱动DUT，完成对只读寄存器的读操作。
3.如权利要求1或2所述的验证测试平台，其特征在于：通过比较通过VPI接口的设置值和通过寄存器读写总线接口的读出值判断对只读寄存器的读操作是否成功；即测试只读寄存器的只读属性。
4.如权利要求1或2所述的验证测试平台，其特征在于：通过VPI接口对待测设计模块只读寄存器进行写操作的过程是，UVM测试序列通过DPI接口导入C子程序；UVM测试序列通过C子程序任务调用VPI接口的C函数，VPI接口的C函数根据通过传入的寄存器层次路径改写只读寄存器的值。
5.一种基于UVM验证方法学的只读寄存器验证方法，其特征在于：基于UVM验证方法学的测试框架通过寄存器读写总线接口与待测设计模块相连接；所述基于UVM验证方法学的测试框架，包括UVM测试序列和UVM序列发生器；所述UVM测试序列能够调用UVM序列发生器，所述UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口驱动待测设计模块；所述UVM测试序列通过VPI接口对待测设计模块内部信号进行赋值改写；通过比较所述赋值和通过寄存器读写总线接口的读出值判断对只读寄存器的读操作是否成功。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于：所述UVM测试序列将待测只读寄存器地址、数据以及相关总线控制信号传递给UVM序列发生器；UVM序列发生器通过寄存器读写总线接口将上述信号按照约定的时序驱动DUT，完成对只读寄存器的读操作。
7.如权利要求5或6所述的方法，其特征在于：通过VPI接口对待测设计模块只读寄存器进行写操作的过程是，UVM测试序列通过DPI接口导入C子程序；UVM测试序列通过C子程序任务调用VPI接口的C函数，VPI接口的C函数根据通过传入的寄存器层次路径改写只读寄存器的值。
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