[发明专利]原位热解飞行时间质谱分析聚合物热解低分子产物的方法在审
| 申请号： | 201410425517.5 | 申请日： | 2014-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN105372361A | 公开（公告）日： | 2016-03-02 |
| 发明（设计）人： | 唐紫超;史磊;李刚;吴小虎;张世宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N30/72 | 分类号： | G01N30/72;G01N30/06 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 任玉龙 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供了原位热解飞行时间质谱分析聚合物热解低分子产物的方法，具体步骤如下：样品处理：将市场采购的分析纯聚合物样品，于70℃下烘干12h，冷却后置于干燥处备用。程序升温飞行时间质谱分析：取5～15mg聚合物样品放置于离子源中，以5～10℃/min的速率升温至700～800℃，质谱累加频率10000Hz，每秒记录1张谱图；数据分析：将得到的质谱图利用origin8.0进行处理。本发明优点：升温控制好，可以检测聚合物在热解过程中主要低分子产物的成分和产出规律，系统灵敏度高，分辨率好；利用紫外光电离源作为电离源，在电离过程中不会产生离子碎片，对认识聚合物结构具有重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 原位 飞行 时间 谱分析 聚合物 热解低 分子 产物 方法 | ||
【主权项】：
原位热解飞行时间质谱分析聚合物热解低分子产物的方法，其特征在于：所述的原位热解飞行时间质谱分析聚合物热解低分子产物的方法，具体步骤如下：(1)样品处理将市场采购的分析纯聚合物样品，于70℃下烘干12h，冷却后置于干燥处备用；(2)程序升温飞行时间质谱分析取5～15mg聚合物样品放置于离子源中，以5～10℃/min的速率升温至700～800℃，质谱累加频率10000Hz，每秒记录1张谱图；(3)数据分析将得到的质谱图利用origin8.0进行处理。
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