[发明专利]一种用于解释和评价水平井测井参数的方法

摘要

本发明公开了一种用于解释和评价水平井测井参数的方法，其包括：利用测井曲线建立地层模型；利用钻井参数来计算和展现水平井的井眼轨迹，基于钻井参数将测井曲线进行水平和垂向投影；将所建立的地层模型和地震剖面资料导入水平井中；通过分析测井响应特征划分钻遇地层界面，并以此为约束，分析测井响应特征是否发生明显变化；调整地层模型与实际测井曲线进行匹配；模拟电阻率的响应特征。本发明采用以双感应电阻率的正演模拟为基础形成的水平井解释评价技术，克服了传统的单一的直井解释方式缺陷。所形成的二维解释方法更符合地质特征，能够满足勘探与开发对于水平井解释新方法迫切需求，达到优化压裂选层目的。

主权项

1.一种用于解释和评价水平井测井参数的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S101、利用水平井的导眼井或邻近直井的测井曲线来建立地层模型，以基于直井的测井解释规则来确定导眼井或临近直井的目的层和标志层；S102、利用钻井参数来计算和展现水平井的井眼轨迹，基于所述钻井参数将待解释的水平井的测井曲线进行水平和垂向投影；S103、将所建立的地层模型和预先获得的地震剖面资料导入水平井中，基于确定的目的层或标志层来调整所述地层模型与所述地震剖面的水平段地震特征相匹配，以符合井眼轨迹与储层的接触关系响应特征；S104、通过分析邻井或导眼井的测井响应特征划分出所述邻井或导眼井的钻遇地层界面，并以此为约束，分析所述水平段的测井响应特征是否发生明显变化，如果是则将发生明显变化的点识别为所述水平段的界面关键点；S105、调整所述地层模型与实际测井曲线进行匹配，使得所述模型与实际的地质特征符合；S106、模拟电阻率的响应特征，并与实际测量的双感应电阻率进行对比判断是否一致，如果不一致则返回步骤S105继续调整所述地层模型直到得到与实际测量的双感应电阻率一致的模拟电阻率，并基于最后得到的地层模型对测井参数进行解释和评价。