[发明专利]一种颗粒粒度仪

摘要

本发明公开了一种颗粒粒度仪，采用面阵图像传感器下置有显微物镜，显微物镜的焦面上置有样品池，样品池下置有两个光源，透射光源和散射光源；测量微米级颗粒时，透射光源发出照明光，照亮被测颗粒样品，颗粒图像被显微物镜放大成像在像平面上，图像被面阵图像传感器接收后获得的图像信号送到计算机处理，得到颗粒粒度分布；测量纳米颗粒时，关闭透射光源，打开散射光源，散射光源发出的激光照射到纳米颗粒样品，纳米颗粒因布朗运动产生的动态光散射信号通过显微物镜被面阵图像传感器接收，获得的信号送到计算机处理，得到颗粒粒度分布。本发明利用一个图像传感器可以测量粒度范围从纳米到数百微米的颗粒，满足宽范围颗粒测量的要求。

主权项

一种颗粒粒度仪，其特征在于，该仪器采用面阵图像传感器（1）作为测量元件，在所述面阵图像传感器下布置显微物镜（2），所述显微物镜（2）的焦面上置有样品池（3），样品池（3）下置有两个光源，其中一个是采用发光二极管LED或微型灯泡的透射光源（4），所述的透射光源（4）布置在样品池（3）和显微物镜（2）的轴线方向上，另一个是采用激光器的散射光源（5）以5‑90度的θ角入射到样品池（3）上；当测量微米级以上颗粒时，位于样品池（3）下的透射光源（4）发出照明光，照亮样品池（3）中的被测颗粒样品（6），颗粒图像被显微物镜（2）放大成像在像平面上，放大的图像被面阵图像传感器（1）接收后获得的图像信号送到计算机进行图像处理，得到颗粒粒度分布和形状因子参数；当测量纳米颗粒时，关闭透射光源（4），打开散射光源（5），散射光源（5）发出的激光照射到被测纳米颗粒样品（6），纳米颗粒因布朗运动产生的动态光散射信号通过显微物镜被面阵图像传感器（1）接收，获得的信号送到计算机进行数据处理，得到颗粒粒度分布和形状因子参数。