[发明专利]对检查对象进行高分辨率微分相衬成像的X射线拍摄系统有效

专利信息
申请号: 201410320900.4 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104274198B 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: M.霍黑塞尔;K.克林根贝克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01N23/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 任宇
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于对检查对象进行微分相衬成像的X射线拍摄系统,具有:至少一个产生准相干X射线的X射线发射器;带有对辐射敏感的、对X射线成像有效的输入面的和布置成阵列的像素的X射线成像探测器;布置在检查对象与射线成像探测器之间的衍射或相位光栅;为衍射或相位光栅对应配设的检偏器光栅;和用于控制X射线成像探测器与接收以及处理X射线成像探测器的图像信号的图像系统。相位光栅和检偏器光栅的尺寸为,使得它们遮盖X射线成像探测器的输入面的仅一部分,图像系统构造为使读出并处理X射线成像探测器的输入面的由光栅遮盖的部分作为用于相衬成像的部分区域,并且读出并且处理X射线成像探测器的其余区域以便基于X射线的吸收成像。
搜索关键词: 检查 对象 进行 高分辨率 微分 成像 射线 拍摄 系统
【主权项】:
1.一种用于对检查对象(6)进行微分相衬成像的X射线拍摄系统,该X射线拍摄系统具有:至少一个用于产生准相干的X射线(12)的X射线发射器(3);带有辐射敏感的、对射线成像有效的输入面的和布置成阵列的像素的X射线成像探测器(4);布置在所述检查对象(6)与所述X射线成像探测器(4)之间的衍射或相位光栅(17)、为所述衍射或相位光栅(17)对应配设的检偏器光栅(18)和用于控制X射线成像探测器(4)且接收以及处理所述X射线成像探测器(4)的图像信号的图像系统(8),其特征在于,所述衍射或相位光栅(17)和所述检偏器光栅(18)的尺寸为,使得它们遮盖X射线成像探测器(4)的输入面的仅一部分,所述图像系统(8)构造为,使得读出并处理所述X射线成像探测器(4)的输入面的、由所述衍射或相位光栅(17)和检偏器光栅(18)遮盖的部分作为用于相衬成像的部分区域并且读出并且处理所述X射线成像探测器(4)的其余区域以便基于吸收X射线的成像。
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