[发明专利]磁致伸缩材料的磁特性测试装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种磁致伸缩材料的磁特性测试装置，其包括：通电后可产生驱动磁场的驱动线圈组件，磁致伸缩元件，用于提供给磁致伸缩元件数值可调的偏置应力的应力施加组件，用于检测磁致伸缩元件变形量、偏置应力大小、磁致伸缩元件表面产生的磁场强度的检测装置，用于承托应力施加组件、检测装置以及磁致伸缩元件的支架，磁致伸缩元件位于驱动线圈组件中，且在偏置应力作用下沿着支架发生轴向磁致伸缩应变。本发明还公开了采用上述测试装置对不同偏置应力作用下测量磁致伸缩材料的磁特性的检测方法，以及对静态偏置磁场下测量磁致伸缩材料的静态磁特性的检测方法。本发明可以对不同偏置应力作用时磁致伸缩材料的磁特性进行测试，获得磁特性曲线。

主权项

一种磁致伸缩材料的磁特性测试装置，其特征在于，包括：驱动线圈组件，通电后可产生驱动磁场，磁致伸缩元件，在所述驱动磁场下发生伸缩，应力施加组件，用于提供给磁致伸缩元件数值可调的偏置应力，检测装置，用于检测磁致伸缩元件变形量、偏置应力的大小、磁致伸缩元件表面产生的磁场强度，支架，用于承托应力施加组件、检测装置以及磁致伸缩元件；磁致伸缩元件位于驱动线圈组件中，且在偏置应力作用下沿着支架发生轴向磁致伸缩应变，所述驱动线圈组件包括线圈骨架，线圈骨架设有中心孔，所述磁致伸缩元件外表面绕设拾取线圈后置于线圈骨架的中心孔中，所述线圈骨架外表面绕设有激励线圈，所述驱动线圈组件还包括导磁体外壳，导磁体外壳一侧呈开口设置，线圈骨架绕设激励线圈后置于所述导磁体外壳中，导磁体外壳与磁致伸缩元件形成一个封闭的磁回路，所述检测装置包括用于检测磁致伸缩元件变形量的应变片、检测偏置应力的大小的上下称重传感器、检测磁致伸缩元件表面产生的磁场强度的霍尔芯片，所述应变片设置在磁致伸缩元件的表面，所述上下称重传感器分别位于所述磁致伸缩元件两端，上称重传感器相对与磁致伸缩元件驱动连接的另一端连接在支架上，下称重传感器相对与磁致伸缩元件驱动连接的另一端与所述应力施加组件联动连接，所述霍尔芯片位于线圈组件与磁致伸缩元件之间，所述检测装置还包括用于检测磁致伸缩元件两端的静态磁感应强度的上下霍尔传感器，所述上下称重传感器与磁致伸缩元件之间分别设有偏置应力集中组件，所述偏置应力集中组件包括截面呈T 型的集中套，集中套设有与所述磁致伸缩元件同轴设置的轴孔，所述轴孔中设有球体，所述球体与所述磁致伸缩元件的端部抵接。