[发明专利]一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法有效
| 申请号： | 201410255918.0 | 申请日： | 2014-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN103999705A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李英丽;张建光;许建锋;张玉星;张江红 | 申请（专利权）人： | 河北农业大学 |
| 主分类号： | A01G7/06 | 分类号： | A01G7/06;A01G17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 071001 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法，即梨树高接后第二年春季，在树冠上选择超长枝进行刻芽，使得其上发生的新梢长势更加均匀，中短枝比例和成花量显著增加，长枝基部发生部分中长枝，有助于延长结果枝组寿命，对于提早恢复产量和保持高产稳产具有良好的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 梨树 超长 枝刻芽 方法 | ||
【主权项】：
一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法，其特征在于包括以下几个步骤：（1）刻芽对象 梨树高接后第二年春季萌芽前，选择长度在80cm以上，粗度在0.6cm以上的侧生枝条作为刻芽对象；（2）刻芽时间与部位 萌芽前一周，对树上所有的侧生超长枝进行刻芽，每个长枝除了顶端30cm部位不刻芽外，对其它所有的芽均刻伤；（3）刻芽方法 超长枝条上的侧生和背下芽在芽上方0.5cm处刻，背上芽则在芽下方0.5cm处刻，刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3，深达木质部。
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