[发明专利]用于运行移动式磁共振成像系统的方法有效

专利信息
申请号: 201410242336.9 申请日: 2014-06-03
公开(公告)号: CN104215923B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: A.杜德尼;M.德罗布尼茨基;R.拉德贝克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/58 分类号: G01R33/58;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 任宇
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于运行移动式磁共振成像系统(1)的方法,该移动式磁共振成像系统(1)具有产生磁场的磁铁(8)和/或线圈和包围磁铁(8)和/或线圈的屏蔽装置(14),该方法在特别小的位置需求时通过技术上简单的器件能够实现检查最佳的图像质量。为此,借助温度测量系统(16)在屏蔽装置(14)的多个位置处测量温度,其中,温度测量系统(16)的测量数据发送到补偿系统(20)上并且其中,借助补偿系统(20)补偿温度差对磁场均匀性的影响。
搜索关键词: 磁共振成像系统 移动式 温度测量系统 补偿系统 屏蔽装置 磁铁 磁场均匀性 测量数据 位置需求 位置处 温度差 磁场 测量 图像 包围 检查
【主权项】:
1.一种用于运行移动式磁共振成像系统(1)的方法,该磁共振成像系统具有产生磁场的磁铁(8)和/或线圈和包围磁铁(8)和/或线圈的、用于散射磁场的铁质的屏蔽装置(14),其特征在于,借助具有多个分布在屏蔽装置(14)不同位置上的温度测量传感器(18)的温度测量系统(16)在屏蔽装置(14)的多个位置测量温度,并由此实现在整个屏蔽装置(14)上的温度的空间分布的检测,其中,温度测量系统(16)的测量数据发送给补偿系统(20),并且,借助所述补偿系统(20)补偿在屏蔽装置(14)不同位置上的不同温度之间的温度差对磁场均匀性的影响。
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