[发明专利]一种工艺开发包中参数化单元的DRC验证方法有效
申请号: | 201410184633.2 | 申请日: | 2014-05-04 |
公开(公告)号: | CN105095535B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 李滔;生俊扬;王春辉;牛欢欢;高颖 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 高伟;冯永贞 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种工艺开发包中参数化单元的DRC验证方法,包括以下步骤:步骤(a)产生PCell实例;步骤(b)对所述PCell实例进行版图布局;步骤(c)执行DRC检查,检查所述PCell实例中的PCell参数是否存在错误。本发明为了在有限的开发时间和有限的计算资源条件下,尽可能高效、全面地对PCell实例进行DRC验证,提出了一种可以快速有效产生大量PCell实例,并进行DRC验证的方法。在所述方法中如果生成的PCell实例存在DRC错误,本发明的方法可以快速准确的定位存在DRC错误的PCell相关参数,以便于开发人员找到DRC错误的原因并修改PCell。 | ||
搜索关键词: | 一种 工艺 开发 参数 单元 drc 验证 方法 | ||
【主权项】:
1.一种工艺开发包中参数化单元的DRC验证方法,包括以下步骤:步骤(a),产生PCell实例;步骤(b),对所述PCell实例进行版图布局;步骤(c),执行DRC检查,检查所述PCell实例中的PCell参数是否存在错误;其中,所述步骤(a)包括以下子步骤:步骤(a‑1),根据PCell参数的种类,对影响PCell版图的参数关键点遍历;步骤(a‑2),对所述参数关键点以外的PCell参数遍历;所述步骤(b)包括以下子步骤:步骤(b‑1),对所述PCell实例的间距进行计算;步骤(b‑2),以PCell参数分类按规律摆放所述PCell实例;步骤(b‑3),将所述PCell参数标注于所述PCell实例。
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