[发明专利]一种X射线底片防止漏评方法在审

专利信息
申请号: 201410177549.8 申请日: 2014-04-29
公开(公告)号: CN105021635A 公开(公告)日: 2015-11-04
发明(设计)人: 关雪松;高岩;刘明亮;潘少伟;任文凯;刘著民;张贵斌;张积伟 申请(专利权)人: 哈尔滨飞机工业集团有限责任公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保;张卓
地址: 150066 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明涉及一种X射线底片防止漏评方法,其特征为收集一个零件的所有射线底片,按尺寸分类整理放置,在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置,检测人员评完一张底片,即用便携打孔机在其上打一孔,归类收集,表明已经完成评定,若在底片的固定位置未发现孔,则该底片尚未进行评定,以此防止底片的漏评。
搜索关键词: 一种 射线 底片 防止 方法
【主权项】:
一种X射线底片防止漏评方法,包括以下步骤,第一步,收集一个零件的所有射线底片,按尺寸分类整理放置在评片机器旁;第二步,准备一个便携打孔机,清洗油污等污染物,保证清洁干净;第三步,在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置,检测人员评完一张底片,即用步骤二中的便携打孔机在其上打一孔,归类收集,表明已经完成评定,若在底片的固定位置未发现孔,则该底片尚未进行评定,以此防止底片的漏评。
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