[发明专利]一种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法

摘要

本发明提供了一种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法。本发明编码时，设定相移周期长度lp为格雷码周期长度lg的2倍，即；设定相移起始点Op相对于格雷码起始点Og滞后。解码时，利用容错式求得被测点编码空间位置，避免了格雷码值错误对被测点编码空间位置的影响。本发明避免了由于复杂表面干扰导致的图像信息提取误差，从而避免了测量粗大误差、提高了编码光三维测量的抗复杂表面干扰能力。

主权项

一种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法，其特征在于它包括以下步骤：步骤一：编码时，设定相移周期长度lp为格雷码周期长度lg的2倍，即lp=2∙lg；设定相移起始点Op相对于格雷码起始点Og滞后0.5∙lg，M为被测点的编码空间位置，为相移相位、kg(kg=0, 1, 2, 3……n)为格雷码值，Op为编码空间的起始点；步骤二：解码时，被测点的相移周期序数kp(kp=0, 1, 2, 3……n)根据被测点的格雷码值和相移相位由式(1)求得，式中j为格雷码图像总数；Gi表示第i幅格雷码图像中被测点的灰度值；I1、I2、I3、I4表示各幅(共4幅)相移图像中被测点的灰度值；式中[ ]表示取整运算；( )2表示二进制转换；( )10表示十进制转换；式中；，；(1)被测点的编码空间位置M由式(2)求得(2)。