[发明专利]一种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法

权利要求书

1.一种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法，其特征在于它包括以下步骤：

步骤一：

编码时，设定相移周期长度lp为格雷码周期长度lg的2倍，即lp=2∙lg；设定相移起始点Op相对于格雷码起始点Og滞后0.5∙lg，M为被测点的编码空间位置， 为相移相位、kg(kg=0, 1, 2, 3……n)为格雷码值，Op为编码空间的起始点；

步骤二：

解码时，被测点的相移周期序数kp(kp=0, 1, 2, 3……n)根据被测点的格雷码值和相移相位由式(1)求得，式中j为格雷码图像总数；Gi表示第i幅格雷码图像中被测点的灰度值；I1、I2、I3、I4表示各幅(共4幅)相移图像中被测点的灰度值；式中[ ]表示取整运算；( )2表示二进制转换；( )10表示十进制转换；式中；，；

(1)

被测点的编码空间位置M由式(2)求得

(2)。