[发明专利]岩石密度测量方法与岩石密度测量装置有效

专利信息
申请号: 201410146255.9 申请日: 2014-04-11
公开(公告)号: CN104977226B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 周枫;李呈呈;赵群;奚相;刘卫华 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
主分类号: G01N9/02 分类号: G01N9/02
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;刘华联
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及岩石密度测量方法与岩石密度测量装置。该岩石密度测量方法包括以下步骤:步骤1,制作岩石样品,其构造为圆柱体;步骤2,称量所述岩石样品的质量;步骤3,测算所述岩石样品的轴向高度和所述岩石样品的底面的直径;步骤4,将所述岩石样品置于高压仓内;步骤5,升高所述高压仓内的温度,向所述岩石样品的底面和顶面施加轴向压力,以固定所述岩石样品,向所述岩石样品的侧面施加径向的压力;步骤6,检测所述岩石样品的轴向应变量和所述岩石样品的底面的径向形变量;步骤7,获取所述岩石样品的密度值。这种岩石密度测量方法能够准确测量高温高压条件下的岩石密度。
搜索关键词: 岩石 密度 测量方法 测量 装置
【主权项】:
1.一种岩石密度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,制作岩石样品,其构造为圆柱体;步骤2,称量所述岩石样品的质量;步骤3,测量所述岩石样品的轴向高度和所述岩石样品的底面的直径;步骤4,将所述岩石样品置于高压仓内;步骤5,升高所述高压仓内的温度,向所述岩石样品的底面和顶面施加轴向压力,以固定所述岩石样品,向所述岩石样品的侧面施加径向的压力;步骤6,检测所述岩石样品的轴向应变量和所述岩石样品的底面的径向形变量;步骤7,获取所述岩石样品的密度值,步骤5中所述径向的压力沿所述岩石样品的侧面均匀施加,采用加压油向所述岩石样品的侧面施加径向的压力。
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