[发明专利]一种近红外量子剪切绝对光致发光量子效率定量测量方法

摘要

一种近红外量子剪切绝对光致发光量子效率定量测量方法，涉及量子剪切材料绝对发光效率计量领域。解决了现有采用理论量子效率的测量方法只能相对的评价量子剪切材料性能，测量准确度低，导致无法实现对量子剪切材料进行绝对评价的问题。将标准灯置于积分球探测系统的积分球内，测量标准灯发光光谱，获得积分球探测系统响应函数，分别使激光照射在空积分球内，照射入积分球内、且不直接照射在样品上和照射入积分球内、且直接照射在样品上，三种情况下获得积分球出射激光及样品荧光的光谱；再对积分球出射激光及样品荧光的光谱进行校准，将校准过的光谱转换为光子数分布光谱，对光子数分布光谱进行积分，计算获得绝对量子效率η。应用在量子测量领域。

主权项

1.一种近红外量子剪切绝对光致发光量子效率定量测量方法，该方法是基于积分球探测系统实现的，该积分球探测系统包括积分球（2）、滤波片（3）、光谱仪（4）、探测器（5）、数据采集卡（6）和计算机（7），所述的积分球（2）的入光口用于接收激发光源（1）发出的激光，激光在积分球（2）内漫反射后，由积分球（2）的出光口射出后，经滤波片（3）滤波后，又经光谱仪（4）出射至探测器（5）的光信号输入端，探测器（5）的电信号输出端与数据采集卡（6）的数据信号输入端连接，数据采集卡（6）的数据信号输出端与计算机（7）的数据信号输入端连接；其特征在于，所述的一种近红外量子剪切绝对光致发光量子效率定量测量方法的具体过程为，第一步，将标准灯置于积分球探测系统的积分球（2）内，测量标准灯的发光光谱，获得积分球探测系统响应函数，然后取出标准灯；第二步，将激发光源（1）发出的激光，照射在空积分球（2）内，获得积分球（2）出射激光的光谱；第三步，将样品置于积分球（2）内，使激发光源（1）发出的激光照射入积分球（2）内、且不直接照射在样品上，获得积分球（2）出射激光及样品荧光的光谱；第四步，将样品置于积分球（2）中心，使激发光源（1）发出的激光照射入积分球（2）内、且直接照射在样品上，获得积分球（2）出射激光及样品荧光的光谱；第五步，根据积分球探测系统响应函数对第二步至第四步中所获得的积分球（2）出射激光及样品荧光的光谱进行校准，将校准过的光谱转换为光子数分布光谱其中，P_(λ)为绝对光谱，且绝对光谱为测量光谱与系统响应函数的比值，为波数，λ表示波长，h表示普朗克常量，c表示光速，第六步，在第二步、第三步和第四步所述的情况下，分别对光子数分布光谱进行积分，获得激光的光子数La、Lb、Lc和荧光的光子数Pb、Pc；其中，La表示第二步中积分球（2）出射激光的光子数；Lb表示第三步中积分球（2）出射激光的光子数；Pb表示第三步中积分球（2）出射样品荧光的光子数；Lc表示第四步中积分球（2）出射激光的光子数；Pc表示第四步中积分球（2）出射样品荧光的光子数；第七步，将La、Lb、Lc、Pb、Pc代入到公式中，获得绝对量子效率η，其中，A表示吸收率。