[发明专利]光学成像系统以及通过该系统进行检测目标寻找的方法有效
申请号: | 201410133051.1 | 申请日: | 2014-04-03 |
公开(公告)号: | CN103925875B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 洪金龙;仇增华 | 申请(专利权)人: | 东莞市天勤仪器有限公司;洪金龙 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01C11/00;G01C21/00 |
代理公司: | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙)11491 | 代理人: | 姜彦 |
地址: | 523000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种光学成像系统及采用光学成像系统进行检测目标寻找的方法,光学成像系统设置有纵向安装座、影像设备和激光发射器,所述影像设备的影像镜头和所述激光发射器的激光头分别固定装配于所述纵向安装座。所述影像镜头与所述激光头设置为同步升降结构。所述激光发射器发射的激光与所述影像镜头的轴线平行。采用该光学成像系统进行检测目标寻找的方法,首先通过影像镜头寻找检测目标,再在影像镜头的引导下将待检测目标调整至激光头下方进行检测。本发明利用影像设备的宽视域特点,在影像镜头的引导下将检测目标调整到激光头下方进行检测,具有调整迅速,检测效率高的特点。 | ||
搜索关键词: | 光学 成像 系统 以及 通过 进行 检测 目标 寻找 方法 | ||
【主权项】:
光学成像系统进行检测目标寻找的方法,其特征在于:首先通过影像镜头寻找检测目标,再在影像镜头的引导下将待检测目标调整至激光头下方进行检测;具体包括以下步骤,(1)影像坐标与激光坐标共坐标校正,选择测试样品或者标准块上的一点作为校正测试点,通过激光发射器发射激光到校正测试点,记录在激光坐标系中所得到的校正测试点对应的坐标为(Jx1、Jy1);将校正测试点移至影像镜头下方进行测量,记录在影像坐标系中所得到的校正测试点对应的坐标为(Yx1、Yy1);根据坐标(Jx1、Jy1)与坐标为(Yx1、Yy1)获得影像坐标系中任意一点与激光坐标系中任意一点之间的对应关系;(2)利用影像镜头预先寻找测试目标S测试目标S在影像坐标系内的坐标为(Yxs、Yys),根据激光坐标系与影像坐标系的关系获得测试目标S在激光坐标系中对应的坐标为(Jxs、Jys);(3)在激光坐标系内,将坐标为(Jxs、Jys)的测试目标移动至激光头下进行测试目标测量。
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