[发明专利]一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法无效
| 申请号： | 201410112010.4 | 申请日： | 2014-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN103884664A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 毛日华;戴灵恩;吴承;何承林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;郑优丽 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法，步骤：a)制备掺铈闪烁晶体标准品；b)按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)中制备的各标准品；c)沿晶体长度方向测量步骤b)中裁切的各标准品的紫外－可见透过光谱的截止波长；d)采用现有测试方法对b)中裁切的各标准品的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定；e)建立掺铈闪烁晶体标准品的截止波长与铈离子浓度的标准关系曲线；f)对与步骤b)相同尺寸待测同质晶体样品，沿晶体长度方向测量其紫外－透过光谱的截止波长，然后根据步骤e)所建立的标准关系曲线，找到该截止波长对应的铈离子浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 闪烁 晶体 离子 浓度 方法 | ||
【主权项】：
一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法，其特征在于，包括如下步骤：a) 制备若干掺杂浓度的掺铈闪烁晶体标准品；b) 按相同尺寸、相同晶向裁切步骤a)中制备的各标准品；c) 沿晶体长度方向测量步骤b) 中裁切的各标准品的紫外－可见透过光谱的截止波长；d) 采用现有测试方法对b) 中裁切的各标准品的各掺铈闪烁晶体标准品进行铈离子浓度测定；e) 建立掺铈闪烁晶体标准品的截止波长与铈离子浓度的标准关系曲线；f) 对与步骤b)相同尺寸待测同质晶体样品，沿晶体长度方向测量其紫外－透过光谱的截止波长，然后根据步骤e)所建立的标准关系曲线，找到该截止波长对应的铈离子浓度，即得待测同质晶体样品中的铈离子浓度。
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