[发明专利]光学元件测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201410083597.0 | 申请日： | 2014-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN103884489A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张玉奇;王江峰;黄文发;彭宇杰;乔治;蒋志龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种光学元件测量装置和测量方法，装置包括连续光纤激光器，沿该连续光纤激光器的输出光束方向依次是光纤准直器、第一偏振分光棱镜、半波片、标准法拉第旋光器、第二偏振分光棱镜、待测光学元件置放台、全反射镜和第三偏振分光棱镜。本发明可对法拉第旋光器、λ/4波片、λ/2波片、电光开关的性能进行测量，还有系统自检功能。该装置具有操作方便，结构紧凑，测量精度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 元件 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光学元件测量装置，其特征在于：该装置包括连续光纤激光器（1），沿该连续光纤激光器（1）的输出光束方向依次是光纤准直器（2）、第一偏振分光棱镜（3）、半波片（4）、标准法拉第旋光器（5）、第二偏振分光棱镜（6）、待测光学元件置放台（7）、全反射镜（8）和第三偏振分光棱镜（9）。
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