[发明专利]基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法

摘要

本发明公开了一种基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法。SFDR测试程序完成初始化设置，通过ADC测试系统得到采样数据；构造五项最大旁瓣衰减窗，对采样数据进行加窗FFT运算；对基波和各次谐波在FFT谱线中搜索幅值最大的谱线及其左右两根谱线，得到左右两根谱线幅值之差与最大谱线幅值的比值；采用多项式逼近的方式得到基波和各次谐波的插值系数；最后通过插值运算得到基波和各次谐波的修正幅值，并将其代入ADC SFDR计算公式，得到测试结果。本发明首次提出基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试ADC SFDR的方法。本方案的优点是能有效抑制频谱泄漏和栅栏效应，快速、准确地测试ADC SFDR。

主权项

1.一种基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1：SFDR测试程序设置正弦模拟输入信号频率f_i、采样频率f_s、需要考虑的最大谐波阶数M以及采样数据长度N；步骤2：基于ADC测试系统以采样频率f_s得到N点长度的采样数据；步骤3：构造N点长度的五项最大旁瓣衰减窗，并对N点长度的采样数据进行加窗FFT运算，得到FFT谱线X(k)，k＝0，1，...，N，其中FFT运算长度为N；步骤4：对基波和各次谐波在FFT谱线中搜索幅值最大的谱线及其左右两根谱线，得到左右两根谱线幅值之差与最大谱线幅值的比值；步骤5：采用多项式逼近的方式得到基波和各次谐波的插值系数计算公式；步骤6：通过插值运算得到基波和各次谐波的修正幅值，将其代入ADC SFDR计算公式，得到测试结果，ADC SFDR计算公式为：SFDR=20log10RMSsignalRMSspu_max---(1)]]>其中，RMS_signal为输入信号基波分量的均方根值；RMS_{spu_max}为采样波形频谱中最大失真谐波分量或最大杂散信号的均方根值。