[发明专利]标准光源以及测量方法在审
| 申请号： | 201410052143.7 | 申请日： | 2014-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN103994874A | 公开（公告）日： | 2014-08-20 |
| 发明（设计）人： | 大久保和明 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种标准光源以及测量方法，是适合于具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量测量的、具有更简单结构的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。标准光源(10)包含发光部(14)、与发光部电连接的供电部(18)以及限制部(16)，该限制部(16)设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。 | ||
| 搜索关键词： | 标准 光源 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
一种标准光源，具备：发光部；供电部，其与上述发光部电连接；以及限制部，其设置于上述发光部与上述供电部之间，限制从上述发光部放射的光向上述供电部一侧传播，其中，上述限制部的被来自上述发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。
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