[发明专利]示波器测量数据的自动处理方法及装置有效
申请号: | 201410019140.3 | 申请日: | 2014-01-15 |
公开(公告)号: | CN103760394B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 陈业达;庄红星;黎昌伟;陈洪表 | 申请(专利权)人: | 广东威创视讯科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R13/00 | 分类号: | G01R13/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 王茹,曾旻辉 |
地址: | 510663 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种示波器测量数据的自动处理方法及装置,所述方法包括以下步骤定制标准测试用例模板,将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中;在示波器中设定相关测量项,并对所述待测芯片进行测试;采集示波器当前的测量数据和波形图;打开存储测试用例的文件设备,并查找与当前测试点对应的测试用例,将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区,以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录;将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析,判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据;若是,则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示。本发明的方法及装置有效提高了单板信号的测试精度。 | ||
搜索关键词: | 示波器 测量 数据 自动 处理 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种示波器测量数据的自动处理方法,其特征在于,包括以下步骤:定制标准测试用例模板,将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中;在示波器中设定相关测量项,并对所述待测芯片进行测试;采集示波器当前的测量数据和波形图;打开存储测试用例的文件设备,并查找与当前测试点对应的测试用例,将采集到的测量数据进行转换后写入到该测试用例的待写数据区,以及将采集到的波形图进行绘制后保存到指定的目录;将所述测量数据与预设的规格标准进行系统分析,判断是否存在异常或超出规格标准的测试数据;若是,则对所述存在异常或超出规格标准的测试数据进行提示;所述定制标准测试用例模板,将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中,包括:使用Excel文件定制标准测试用例模板,将待测芯片的规格标准写入所述测试用例模板中,没有相关参数值要求的,用待定表示,空白处为待写的数据区;所述采集示波器当前的测量数据和波形图的步骤包括:基于Labview平台建立一个虚拟示波器对象,根据示波器提供的接口和协议,通过Laview虚拟示波器提供的接口函数来读取存储在示波器的二进制文件数据;对采集的数据进行一个转换和绘制,得到测试数据和波形图。
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