[发明专利]比浊计及检测比浊计的样品试管污染的方法有效

专利信息
申请号: 201380080343.7 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN105637342B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: M.巴特费尔德;M.库斯曼;B.德海;B.加斯纳;F.斯坦豪尔;H-J.孔普赫;A.莱耶;M.库珀斯;A.格利茨;A.米特赖特;C.汉施克;L.海德曼斯 申请(专利权)人: 哈克兰格有限责任公司
主分类号: G01N21/15 分类号: G01N21/15;G01N21/51
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 曲莹
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于测量样品试管(40)中的液体样品(49)的浊度的比浊计(10)。所述浊度计(10)包括:用于向试管(40)发射轴向平行光束(60)的测量光源(20),布置为接收非轴向地来自于试管(40)的散射光(66)的散射光检测器(30),和具有光漫射器本体(52)和漫射器致动装置(54)的可切换漫射器(50),所述漫射器致动装置(54)用于把漫射器本体(52、52')在停放位置和位于光源(20)与试管(40)之间的测试位置之间移动,在所述停放位置时,漫射器本体(52)不与发射光束(60)干涉,在所述测试位置时,漫射器本体(52')与发射光束(60)干涉,以产生进入试管(40)的漫射测试光(63)。
搜索关键词: 检测 样品 试管 污染 方法
【主权项】:
1.一种用于测量样品试管(40)中的液体样品(49)的浊度的比浊计(10),该比浊计(10)包括:用于向样品试管(40)发射轴向平行光束(60)的测量光源(20);布置为从样品试管(40)接收散射光(66)的散射光检测器(30);具有漫射器本体(52)和漫射器致动装置(54)的漫射器(50),所述漫射器致动装置(54)用于把漫射器本体(52、52')在停放位置和测试位置之间移动,在所述停放位置时,漫射器本体(52)不与轴向平行光束(60)干涉,在所述测试位置时,漫射器本体位于测量光源(20)与样品试管(40)之间,使得漫射器本体(52')与轴向平行光束(60)干涉并产生进入样品试管(40)的漫射测试光(63);以及清洁装置;其中,所述样品试管(40)是圆筒状的,并具有圆筒壁(42)和平坦的底壁(41);以及清洁装置布置在样品试管的上方,并用于对样品试管的圆筒壁(42)和平坦的底壁进行机械清洁。
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